一、晶振外殼目標分析及檢測流程介紹
晶振外殼的形狀類似于飯盒，較長處約為11mm，較寬處約為4.5mm，共有6個面需要進行檢測。經(jīng)過對小型沖壓件生產(chǎn)原理的分析結合廠家提供的大量次品樣品，可以認為它的缺陷主要分布于兩個位置：內(nèi)底面和側邊。其中內(nèi)底面的缺陷往往是由沖壓模具引起的凹陷以及劃傷，而側邊的缺陷全部為穿孔破損缺陷，位置也集中分布于弧頂面或者弧頂面與側面的連接處。由于缺陷位置差異較大，因此需要針對其形狀特點分別設計不同的光源和檢測算法。
對于分布于內(nèi)底面的凹陷和劃傷，利用環(huán)形熒光燈作為光源，使晶振外殼和鏡頭都處于光源圓心的垂直軸線處，并采用高角度漫照射，可以保護內(nèi)底面深受均勻的光照，較大限度地減弱了光照不均勻所產(chǎn)生的明暗變化，也避免了側邊在底面上投射下陰影而造成的檢測誤差。
弧頂面是一個接近半圓的弧形，對于這類大曲率的金屬物體表面檢測，較理想的方案是使用同軸照明。
但是目前市場上商品化的同軸照明系統(tǒng)都很昂貴，選用此類光源固然可以優(yōu)良降低檢測難度，但是隨之帶來了系統(tǒng)成本的大幅上揚，不符合此系統(tǒng)低成本的研制初衷。而自制的同軸照明系統(tǒng)，成像效果與商業(yè)產(chǎn)品相去甚遠。經(jīng)過對多種類型光源的比對實驗，較終確定采用低角度照明方式。此種照明方式能較大程度地凸現(xiàn)目標區(qū)域，而且對組件無特別要求，制作簡單。
二、晶振外殼的作用
晶振外殼接地是為了達到什么目的?干擾。晶振的金屬外殼接地后就相當于給里面的晶體裝了一個全金屬圈封閉的金屬屏蔽罩，從電磁學上來講，外面的輻射信號要穿越這樣的金屬屏蔽罩是很困難的，也就實際效果為主了晶振的工作環(huán)境，提高了其抗干擾的能力。
晶振外殼對晶振的性能影響力有多大?晶體振蕩器被廣泛用于各種模擬和數(shù)字電路中作為基準時鐘源，其質量的好壞直接影響到電路工作狀況，而晶振外殼(也稱晶振帽)沖壓品質是影響晶振性能的主要因素之一。
晶振外殼恒熙電子晶振外殼采用沖床連續(xù)沖壓成型，經(jīng)大量觀察和分析發(fā)現(xiàn)，主要缺陷有內(nèi)底面與頂面的凹坑、內(nèi)底面與頂面的劃痕，側面裂口和側面撓曲。之前的研究者針對前3種缺陷，應用計算機視覺檢測技術設備了晶振外殼缺陷檢測系統(tǒng)。側面撓曲嚴重同樣可以影響晶振的質量，是指外殼主要側面不平行。理論上這種側面的撓曲缺陷使得本來與光源平行的內(nèi)側面發(fā)生小角度傾斜，其在圖像上的突出表現(xiàn)是晶振外殼凸緣內(nèi)側邊緣變粗和不平行。
晶振外殼的表面質量對晶振的性能有較大的影響。針對工業(yè)現(xiàn)場中晶振外殼撓曲缺陷的特點，我們可以檢測晶振外殼內(nèi)側邊緣間的距離，如果某連續(xù)的一段檢測值超出合格范圍，就判定該零件不符合要求，即存在撓曲缺陷。
晶振振蕩器外殼生產(chǎn)廠家濾波器的選擇要注意其中截止頻率；濾波器的額定電壓；濾波器的插入損耗；濾波器的額定電流；濾波器的體積等方面。濾波器在正常工作時能夠長時間流過的電流值，額定電流由濾波器的引線直徑?jīng)Q定，線徑越大，額定電流越大。
對于濾波器組件，額定電流還與電感線圈的飽和特性有關，當電流超過額定電流時，東莞晶振外殼，濾波器的性能會下降。濾波器的插入損耗大于3dB的頻率點稱為濾波器的截止頻率，當頻率超過截止頻率時，濾波器就進入了阻帶，在阻帶，干擾信號會受到較大的衰減。根據(jù)使用濾波器的場合不同（信號電纜濾波還是電源線濾波），晶振外殼，可以用兩個方法來確定濾波器的截止頻率。
在對信號電纜進行濾波時，根據(jù)效果優(yōu)良信號的帶寬來確定，截止頻率要大于信號的帶寬，這樣才能保護有用信號不被衰減。在對電源線或直流信號線，濾波時，由于效果優(yōu)良信號的頻率很低，信號失真的問題不是主要因素，龍崗晶振外殼，因此主要根據(jù)干擾信號的頻率來定，要使干擾頻率全部落在濾波器的阻帶內(nèi)。